Larbalestier D.C., Scheuerlein C., Chen P., Hellstrom E.E., Jiang J., Trociewitz U.P., Kametani F., Lee P.J., DALBAN-CANASSY M., Matras M., Craig N.C.
Larbalestier D.C., Hellstrom E.E., Jiang J., Trociewitz U.P., Kametani F., Lee P.J., Matras M.R., Craig N.C.
Ключевые слова: HTS, Bi2212/Ag, wires round, fabrication, overpressure processing, critical caracteristics, critical current density, microstructure, length
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.